Xstress Studio

Xstress Studio 2
Xstress Studio
  • Sterowanie działaniem sprzetu: detektory, silniki DC, zasilacz, przesłona, funkcje zabezpieczeń, napięcie i natężenie prądu itp
  • Automatyczna kalibracja przy wykorzystaniu wzorców w celu ustawienia odległości od dyfraktometru do badanego elementu
  • Zarządzanie projektami do pomiaru rozłożenia głębokości oraz wszelkiego rodzaju pomiarów mapujących
  • Funkcje biblioteki parametrów materiałów
  • Kalkulator teoretycznej pozycji szczytowej danego materiału i wartości promieniowania
  • Tryby pomiarowe zmodyfikowany χ oraz Ω
  • Określanie zmiany wartości szczytowej najbardziej znanymi metodami jak np. korelacja krzyżowa lub metoda dopasowania wartości szczytowej
  • Dopasowanie wartości szczytowej z 10 różnymi funkcjami:  Gauss, Lorentz, Zmodyfikowany Lorentz, Pośredni Lorentz, Pearson VII, Rozdzielony Pearson VII, Pseudo-Voigt, Rozdzielony Pseudo-Voigt, Voigt and Rozdzielony Voigt
  • Obliczenia tensora naprężeń oraz naprężeń głównych
  • Format plików JSON
  • W zgodności z normą EN 15305:2008
  • Metody obliczeń
    • Przygotowanie danych
    • Wartości szczytowe
    • Przesunięcie wartości szczytowych (określenie pozycji linii dyfrakcji)
    • Naprężenia normalne i ścinające
    • Tensor naprężeń
    • Naprężenia główne
    • Statystyka
    • Profil głębokości
Casp System Dofinansowanie
Wdrożenie systemu klasy B2B automatyzującego procesy biznesowe zachodzące pomiędzy CASP System i Partnerami biznesowymi firmy.
Projekt jest współfinansowany przez Unię Europejską ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego
2002 - 2021 © Copyright Caspsystem www.caspsystem.pl / Polityka prywatności / Zastrzeżenia prawne / Kontakt