Xstress G3

Dyfraktometr rentgenowski Xstress G3 daje możliwość dostępu do ograniczonych przestrzeni i pomiar złożonych geometrii, np. wewnątrz rur lub wałków rozrządu.

  • Nieniszczące
  • Umożliwia wykorzystanie w warunkach laboratoryjnych, fabrycznych lub polowych
  • Szybkie przygotowanie do pracy, gotowe do użycia w 10 minut
  • Łatwa wymiana lamp RTG (Cr, Cu, Co, Fe, V, Ti, Mn) umożliwia pomiar różnych materiałów
  • Trzy odległości pomiaru w standardzie: 50, 75 oraz 100 mm
  • Dwa detektory NMOS
  • Natychmiast dostosowywalne  kąty 2θ
  • Oprogramowanie XTronic do wykonywania pomiarów i wykonywania obliczeń naprężeń szczątkowych a także (opcjonalnie) kalkulacji austenitu nieprzemienionego
  • Tryby pomiaru d-sin²χ oraz Ω w standardzie

Dwa symetrycznie rozmieszczone detektory NMOS

  • standardowa szerokość detektora 30°
  • inne detektory dostępne jako opcje

2θ-zakres pracy detektorów

  • płynne dostosowanie w zakresie 110° do 165°
  • mniejsze kąty jako opcja z specjalnymi detektorami

Standardowa odległość pomiaru 50/75/100 mm

Wymienne kolimatory

  • krótkie i długie kolimatory o wielkości otworów 1/2/3/4/5 mm
  • specjalne kolimatory dostępne jako opcje

Lampa RTG

  • Standardowo Lampa Cr – maks. moc 30 kV/9 mA/270 W

Główna jednostka Xstress (generator wysokiego napięcia)

  • Zasilanie RTG 5–30 kV/0–10 mA dowolnie dostosowywalne w zakresie pracy
  • samowystarczalny układ chłodzenia cieczą
  • zawiera wszystkie zabezpieczenia do zapewnienia pełnego bezpieczeńśtwa
  • uniwersalne wejście zasilania

Oprogramowanie XTronic

  • W pełni przystosowane oprogramowanie do systemu Windows, wykorzystujące możliwość wielozadaniowości
  • Sterowanie pracą sprzętu: detektory, silniki DC, zasilacz, przesłona, funkcje bezpieczeństwa, napięcie i prąd, itp.
  • Zautomatyzowana kalibracja z wzorcami umożliwiającymi ustawienie do pracy na określonych odległościach
  • Manager projektów do pomiarów rozmieszczenia głębokości oraz pomiarów mapujących
  • Funkcja biblioteki dla parametrów materiałów
  • Zmodyfikowany tryb d-sin2χ oraz Ω
  • Określenie przesunięcia wartości szczytowych za pomocą najbardziej znanych metod
  • Dopasowanie wartości szczytowych za pomocą ośmiu różnych funkcji oraz trzech opcji: Gauss, Lorentz, Zmofyfikowany Lorentz, Pośredni Lorentz, Pearson VII, Rozdzielony Pearson VII, Pseudo-Voigt oraz Podzielony Pseudo-Voigt
ANSI N43.3 – 1993
  • Zgodny z lub przewyższający wymagania normy ANSI N43.3 – 1993 oraz innych standardów przemysłu dotyczące stosowania otwartej wiązki RTG
  • Spełnia ogólne wymogi bezpieczeństwa dyfraktometrów RTG
Xstress G3 crankshaft
Xstress G3 rotation table
Xstress G3 measurement
Casp System Dofinansowanie
Wdrożenie systemu klasy B2B automatyzującego procesy biznesowe zachodzące pomiędzy CASP System i Partnerami biznesowymi firmy.
Projekt jest współfinansowany przez Unię Europejską ze środków Europejskiego Funduszu Rozwoju Regionalnego
2002 - 2021 © Copyright Caspsystem www.caspsystem.pl / Polityka prywatności / Zastrzeżenia prawne / Kontakt
Beam IT