YXLON FF35 CT

Przemysłowy systemu CT wysokiej rozdzielczości do badania małych lub średnich rozmiarów próbek.
System tomografii komputerowej YXLON FF35 CT został zaprojektowany do otrzymania najwyższej jakości wyników w szerokim zakresie inspekcji. Możliwość zamontowania jednej lub dwóch lamp rentgenowskich jest idealna do badania małych lub średnich rozmiarów próbek w przemyśle motoryzacyjnym, lotniczy czy badań materiałowych.

• wykrywalność w badaniach 2D aż do 150 nm z nową chłodzoną wodą lampą transmisyjną 190 kV
• odporny na zmiany temperatury dzięki granitowej bazie
• innowacyjny i intuicyjny system dodatkowego zarządzania inspekcją
• szerokie możliwości: technika śrubowego skanowania ( Helical CT), poziomy rozszerzony obszar inspekcji, wirtualna oś obrotu
• precyzyjna metrologia: MPE~SD~ = 8 µm + L/75 zmierzona, jako odchylenie odległości od kuli odniesieniu wg normy VDI 2630-1.3

Najważniejszą zaletą system YXLON FF35 CT jest możliwość zamontowania dwóch lamp rentgenowskich, oferująca połączenie lamp nano- i mkro- ogniskowych, co pozwala na stworzenie bardzo wszechstronnego systemu tomografii komputerowej. Każda lampa może być ustawiana niezależnie od siebie – w szybki i prosty sposób.
Dzięki skoncentrowaniu się na użyteczności, kontrola systemu odbywa się za pomocą dwóch ekranów dotykowych, które umożliwiają łatwą wizualizację wyników obrazu. Inteligentna funkcjonalność wspiera użytkownika: poprzez „IntelliGuard” zapewniając ochronę antykolizyjną detalu z lampą rentgenowską i detektorem, poprzez określanie kształtu zewnętrznego elementu.
System umożliwia skanowanie śrubowe ( Helical CT) oferując identyczną jakość skanu w każdym jego miejscu bez względu czy analizujemy górę lub dół badanej próbki.
Możliwość wyboru własnego środka obrotu za pomocą „wirtualnej osi obrotu” (FlexCenter) oferuje znaczny komfort i oszczędność czasu. Kontrolowana pozycja nie musi być zmieniana, jeśli obszary zainteresowania przesunie się poza fizyczne centrum obrotu.
Monitor informacyjny – zawiera wszystkie informacje w jednym miejscu wraz z możliwością zarządzania parametrami badań, raportami, statystyką i wieloma innymi.